Система GWI была создана для обнаружения дефектов стеклянных пластин на ранних этапах производственного цикла. В основе системы лежит интеллектуальная камера высокого разрешения, обеспечивающая необходимую точность обнаружения дефектов. Полная оценка пластины осуществляется с помощью интеллектуальной камеры. Снимок стеклянной пластины делается и сразу же обрабатывается в камере. Полученные данные и изображения передаются в ПЛК. Также есть возможность подключить дисплей к камере, чтобы видеть результаты на экране. Для запуска процесса оценки доступны соединения Ethernet, RS232 и Power I/O. Power I/O также содержит интерфейс RS232. Система GWI обнаруживает дефекты поверхности стеклянных пластин, такие как царапины, частицы и дефекты подложки.
Технические характеристики
ХарактеристикиПрименениедля пластинТипстекло поверхность
