Инновационный аналитический метод FE-SEM позволяет легко переключаться между режимом высокого вакуума и режимом переменного давления. EM Wizard — это основанная на знаниях система для получения изображений СЭМ, которая выходит за рамки базовых заданных условий и рецептов. Простота использования открывает новые возможности для исследования материалов, разработок и областей, выходящих за рамки нашего воображения. Модель SU5000 FE-SEM навсегда изменила операции SEM. Инновационная компьютерная технология от Hitachi, называемая EM Wizard, предлагает новый уровень работы и контроля SEM. Эксперт или новичок, результат теперь один и тот же: наноизображения высочайшего качества у каждого под рукой! • Новый, революционный пользовательский интерфейс EM Wizard обеспечивает всем пользователям оптимальный уровень разрешения, повторяемости и производительности. С EM Wizard новички в мгновение ока становятся экспертами. • Технология автоматической регулировки оси (автокалибровка) по требованию восстанавливает микроскоп до «лучшего состояния». • Прочная выдвижная камера для образцов вмещает крупные образцы (-200 ммφ, -80 мм H). • Быстрая замена проб с эвакуацией для наблюдения за 3 минуты или меньше. • Автоматическая, интуитивно понятная оптимизация изображений «на лету». • Визуальное и интерактивное руководство предлагает режимы SEM «выбирай и выбирай» для обеспечения наилучших условий эксплуатации. • С помощью инструмента 3D MultiFinder образцы легко наклоняются и поворачиваются, при этом изображение остается в центре и в фокусе. Информация о множестве углов от недавно разработанного кольцевого детектора обратного рассеяния электронов (BSD) одновременно получает как топографическую, так и композиционную информацию.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипАвтоэмиссионное сканирование электроновТехническое применениедля анализаМетодика наблюденияBF-STEM, 3D, DF-STEM, in-situКонфигурацияпол- стояИсточник электроновАвтоэлектронная эмиссия ШотткиТип детекторавторичный электрон, обратно рассеянный электрон Опции и аксессуарыкомпьютерноеДругие характеристикидля нанотехнологий, с высоким разрешением, автоматизированное сканирование с переменным давлением, для плоских образцов, для полированных образцов, топография, идентификация асбеста, одновременное получение данных, науки о Земле, большое увеличениеРазрешение
1,2 нм
