Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

Оптическая система измерения толщины NanoGauge C10178-03E

Система измерения толщины Optical NanoGauge C10178 представляет собой систему бесконтактного измерения толщины пленки с использованием спектральной интерферометрии. Толщина пленки измеряется быстро с высокой чувствительностью и точностью с помощью спектральной интерферометрии. В наших продуктах в качестве детекторов используется многоканальный спектрометр PMA, который позволяет измерять квантовые выходы, отражение, пропускание/поглощение и другие параметры, одновременно измеряя толщину различных оптических фильтров и пленок покрытия и многое другое.

Артикул: C10178-03E

Технические характеристики

Type number	C10178-03E
Measurement models (features)	supports NIR
Measurable film thickness range (glass)	150 nm to 50 μm*1
Measurement reproducibility (glass)	0.05 nm2 3
Measurement accuracy (glass)	±0.4 %3 4
Light source	Halogen light source
Measurement wavelength	900 nm to 1650 nm
Spot size	Approx. φ1 mm*3
Working distance	10 mm*3
Number of measurable layers	Max. 10 layers
Analysis	FFT analysis, Fitting analysis, Optical constant analysis
Measurement time	19 ms/point*5
Fiber connector shape	φ12 sleeve shape
External control function	RS-232C, PIPE, Ethernet
Power supply	AC200 V to AC240 V , 50 Hz/60 Hz
Power consumption	Approx. 230 VA

C10178-03E Оптическая система измерения толщины NanoGauge C10178-03E — товар из ассортимента Laserzz для подбора и поставки под задачи ремонта и комплектации.

Позиция подходит для сценариев замены и закупки под конкретную спецификацию оборудования.

Для корректного выбора сверяйте маркировку, параметры и совместимость с вашей схемой/узлом.

Вопросы и ответы

Как проверить совместимость товара?

Сравните артикул, технические параметры и формат исполнения с требованиями вашей модели оборудования.

Можно ли заказать партию?

Да, для партийных закупок доступны отдельные условия, ориентируйтесь на количество и сроки поставки.