Unique ion beam milling device with two modified saddle field ion sources of variable ion energy for optimum results. It combines the preparation of TEM, SEM, and LM samples in a single benchtop unit.
Description
Unique ion beam milling device with two modified saddle field ion sources of variable ion energy for optimum results. It combines the preparation of TEM, SEM, and LM samples in a single benchtop unit. A variety of sample holders allows a diverse range of applications to be carried out. In addition to high-energy ion beam milling, the Leica EM RES102 can also be used for very gentle sample processing using low ion energy.
Leica EM RES102 | Ion Beam Milling System — товар из ассортимента Laserzz для подбора и поставки под задачи ремонта и комплектации.
Позиция подходит для сценариев замены и закупки под конкретную спецификацию оборудования.
Для корректного выбора сверяйте маркировку, параметры и совместимость с вашей схемой/узлом.
Сравните артикул, технические параметры и формат исполнения с требованиями вашей модели оборудования.
Да, для партийных закупок доступны отдельные условия, ориентируйтесь на количество и сроки поставки.
