Сканирующий электронный микроскоп

Отображение 16–18 из 18

СЭМ-микроскоп Phenom ParticleX TCдля анализанастольныйCeB6
Подробнее
СЭМ-микроскоп Phenom ParticleX TC для анализа настольный CeB6
СЭМ-микроскоп Phenom XL G2для контроля качестванастольныймаленький
Подробнее
СЭМ-микроскоп Phenom XL G2 для контроля качества настольный маленький.
СЭМ-микроскоп серии TM4000для анализа и измерения контрастности атомных номеров
Подробнее
СЭМ-микроскоп серии TM4000 для анализа и измерения контрастности атомных номеров