Анализ чистоты компонентов с помощью универсального настольного СЭМ. Настольный СЭМ для анализа чистоты компонентов Настольный СЭМ Thermo Scientific Phenom ParticleX TC — это многоцелевой настольный СЭМ, обеспечивающий техническую чистоту на микроуровне. Определение характеристик материалов Универсальное решение для высококачественного внутреннего анализа. Phenom ParticleX Desktop SEM дает вам возможность выполнять быструю характеристику, проверку и классификацию материалов, обеспечивая ваше производство быстрыми, точными и надежными данными. Система проста в эксплуатации и быстро обучается, открывая возможности анализа частиц и материалов для более широкой группы пользователей. Ключевые особенности Техническая чистота В связи с растущим спросом на анализ более мелких частиц, выходящих за рамки световой микроскопии в (автомобильной) промышленности, настольный СЭМ Phenom ParticleX TC (техническая чистота) позволяет выполнять автоматизированную сканирующую электронную микроскопию с энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (EDS). ). Это главное преимущество перед световой микроскопией, поскольку оно позволяет химическую классификацию частиц, обеспечивая лучшее понимание ваших производственных процессов и/или окружающей среды. Доступны стандартные отчеты, соответствующие VDA 19/ISO 16232 или ISO 4406/4407. Детектор вторичных электронов Детектор вторичных электронов (SED) доступен в качестве опции для настольного SEM Phenom ParticleX TC (техническая чистота). SED собирает низкоэнергетические электроны из верхнего поверхностного слоя образца. Поэтому это идеальный выбор для получения подробной информации о поверхности образца. SED может быть очень полезен в приложениях, где важны топография и морфология.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипSEMТехнические применениядля анализКонфигурациянастольныйИсточник электроновCeB6Тип детектора вторичный электрон, обратнорассеянный электронДругие характеристикиавтоматизированный, топографияУвеличение
Макс.: 200 000 единиц
Мин.: 160 единиц
Разрешение
10 нм
/дел>
