Лабораторное оборудование

Отображение 46–60 из 2273

SEM-микроскоп Phenom Pro G6для анализадля контроля качествадля анализа материалов
Подробнее
SEM-микроскоп Phenom Pro G6 для анализа для контроля качества для анализа материалов
SEM-микроскоп Phenom ProX G6для анализадля научных исследованийнастольный
Подробнее
SEM-микроскоп Phenom ProX G6 для анализа для научных исследований настольный
SEM-микроскоп Phenom Pure G6для контроля качествадля исследования материаловнастольный
Подробнее
SEM-микроскоп Phenom Pure G6 для контроля качества для исследования материалов настольный.
SEM-микроскоп Verios 5 XHRдля исследования материаловдля метрологиидля полупроводников
Подробнее
SEM-микроскоп Verios 5 XHR для исследования материалов для метрологии для полупроводников
SEM-микроскоп Volumescope 2для исследования материалов3Din-situ
Подробнее
SEM-микроскоп Volumescope 2 для исследования материалов 3D in-situ
SEM-микроскоп ZEISS SIGMAдля анализацифровая камера
Подробнее
SEM-микроскоп ZEISS SIGMA для анализа цифровая камера
SH Подставка под отвертки и ключи
Подробнее
SH Подставка под отвертки и ключи
STEM-микроскоп HF5000для исследования материаловдля анализа материаловдля метрологии
Подробнее
STEM-микроскоп HF5000 для исследования материалов для анализа материалов для метрологии
STEM-микроскоп Talos F200S G2для анализадля контроля качествадля исследования материалов
Подробнее
STEM-микроскоп Talos F200S G2 для анализа для контроля качества для исследования материалов
STEM-микроскоп Talos F200X G2для анализадля исследованийпромышленный
Подробнее
STEM-микроскоп Talos F200X G2 для анализа для исследований промышленный.
STEM-микроскоп Talos L120C G2для контроля качествадля исследованийдля исследования материалов
Подробнее
STEM-микроскоп Talos L120C G2 для контроля качества, для исследований, для исследования материалов.
TEM-микроскоп Spectra 200для контроля качествадля исследования материаловдля полупроводников
Подробнее
TEM-микроскоп Spectra 200 для контроля качества, для исследования материалов, для полупроводников.
TEM-микроскоп Spectra 300для исследования материаловдля полупроводниковвысокое разрешение
Подробнее
TEM-микроскоп Spectra 300 для исследования материалов для полупроводников, высокое разрешение.
TEM-микроскоп Talos F200Cдля контроля качествадля исследования материалов3D
Подробнее
TEM-микроскоп Talos F200C для контроля качества для исследования материалов 3D
TEM-микроскоп Talos F200iдля контроля качествадля исследования материалов3D
Подробнее
TEM-микроскоп Talos F200i для контроля качества для исследования материалов 3D