SIGMA FE-SEM (полевые эмиссионные сканирующие электронные микроскопы) представляет собой серию современных микроскопов, используемых для обнаружения электронов. Он поставляется с программным обеспечением для навигации по изображениям, которое встроено в SmartSEM. Он разработан на основе колонки GEMINI, что обеспечивает стабильность изображения при низком напряжении. Установка в его камеру двойных ЭЦП-детекторов повысит его функциональность.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипSEMТехнические применениядля анализДругие характеристикицифровой камеры
