Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Phenom Pharos G2для обучениядля контроля качествадля исследования материалов

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией для получения высококачественных изображений в различных дисциплинах. Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM переносит СЭМ с полевой эмиссией на ваш настольный компьютер. Phenom Pharos G2 FEG-SEM превзойдет многие напольные SEM с точки зрения качества изображения, предлагая при этом гораздо лучший пользовательский опыт. Для академических и промышленных лабораторий, которые до сих пор не считали СЭМ реалистичным вариантом, Phenom Pharos G2 FEG-SEM делает производительность FEG доступной благодаря привлекательному форм-фактору и необходимости короткого обучения. Невероятно быстрая загрузка образцов означает быструю замену образцов, что означает более высокую производительность. В отличие от других SEM, которые в конечном итоге полностью забронированы, Phenom Pharos G2 FEG-SEM выполняет работу по визуализации и анализу настолько быстро, что может служить хорошим инструментом для пешеходов. Новый Phenom Pharos G2 FEG-SEM расширяет диапазон ускоряющего напряжения до 1 кВ, чтобы лучше обрабатывать изолирующие и чувствительные к лучу образцы, и до 20 кВ с разрешением 2,0 нм, позволяющим выявить мельчайшие детали. Основные характеристики Уникальный источник автоэмиссии Уникальный среди настольных СЭМ Phenom Pharos G2 FEG-SEM предлагает источник автоэмиссии, который гарантирует высокую яркость, четкость изображения и стабильный ток луча. Превосходная разрешающая способность Phenom Pharos G2 FEG-SEM обеспечивает разрешение 2,0 нм при 20 кВ. Такие характеристики показывают форму наночастиц, дефекты покрытий или другие особенности, которые были бы упущены вольфрамовыми или другими настольными СЭМ.

Технические характеристики

ХарактеристикиТипАвтоэмиссионное сканирование электроновТехническое применениеобразовательный, промышленный, для контроля качества, для материаловеденияКонфигурациянастольныйТип детекторавторичных электронов, обратно- рассеянный электронУвеличение

2 000 000 единиц

Разрешение

2 нм, 3 нм, 10 нм