Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функций, включая наблюдение на большой территории, анализ на месте, переменное давление, получение изображений с высоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях и одновременный сбор нескольких сигналов. Модель SU7000 предназначена для решения этих и многих других задач, предоставляя расширенную информацию для разнообразных нужд в области электронной микроскопии. Откройте для себя наномир с SU7000! *Изображения на мониторах вставлены.*На фотографии устройства показана конфигурация с дополнительными элементами. Универсальные возможности визуализации 1. SU7000 отличается быстрым сбором нескольких сигналов для удовлетворения обширных потребностей SEM: от визуализации широкого поля зрения до визуализации субнанометровых структур и всего, что между ними. 2. Использование новой электронной оптики и систем обнаружения позволяет эффективно одновременно регистрировать сигналы множества вторичных электронов и обратно рассеянных электронов. 2. Многоканальная визуализация. Число детекторов, установленных на РЭМ, постоянно увеличивается, а также возникает необходимость эффективного отображения всей собранной информации. SU7000 способен обрабатывать, отображать и сохранять до 6 сигналов одновременно для максимального увеличения сбора информации. Широкий выбор методов наблюдения 4. Камера для образцов и вакуумная система оптимизированы для: ・Большого размера образца ・Манипулирования образцом по различным осям ・Условий переменного давления ・Криогенных условий ・Нагревания и охлаждения на месте наблюдения
Технические характеристики
ХарактеристикиТипАвтоэмиссионное сканирование электроновТехническое применениедля анализаТехника наблюденияBF-STEM, DF-STEM, in-situКонфигурациянапольнаяИсточник электроновАвтоэлектронная эмиссия ШотткиТип детекторавторичный электрон, обратно рассеянный электронДругие характеристики для нанотехнологий, одновременный сбор данных, сверхвысокое разрешениеУвеличение
Мин.: 20 единиц
Макс.: 2 000 000 единиц
Разрешение
0,8 нм, 0,9 нм
