Настольный СЭМ для анализа аддитивных технологий, способный наблюдать большие образцы размером до 100 x 100 мм. Анализ аддитивного производства Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) Thermo Scientific Phenom ParticleX представляет собой многоцелевой настольный SEM, предназначенный для аддитивного производства и обеспечивающий чистоту на микроуровне. Он оснащен камерой достаточно большого размера для анализа образцов размером до 100 x 100 мм. Запатентованный механизм вентиляции и загрузки обеспечивает самый быстрый в мире цикл вентиляции/загрузки, обеспечивая максимальную пропускную способность. С помощью Phenom ParticleX AM Desktop SEM вы можете самостоятельно контролировать свои данные: • Мониторить критические характеристики металлических порошков • Улучшить процессы производства порошковых добавок и порошковых добавок • Определить распределение частиц по размерам, морфологию отдельных частиц и инородные частицы Настольный СЭМ Phenom ParticleX AM Особенности анализа частиц СЭМ Настольный СЭМ Phenom ParticleX AM имеет камеру с точным и быстрым моторизованным столиком, который позволяет анализировать образцы размером до 100 x 100 мм. Даже при таком большем размере образца запатентованный загрузочный челнок обеспечивает лучшее в отрасли время загрузки в 60 секунд или меньше, что в конечном итоге обеспечивает более высокую производительность, чем другие системы SEM. Тестирование аддитивного производства Настольный СЭМ Phenom ParticleX AM измеряет различные параметры размера и формы, такие как минимальный и максимальный диаметр, периметр, соотношение сторон, шероховатость и диаметр фермы. Все это может отображаться со значениями 10%, 50% или 90% (т. е. d10, d50, d90).
Технические характеристики
ХарактеристикиТипSEMТехнические применениядля анализ, измерение, для контроля качества, для исследования материаловКонфигурациянастольныйИсточник электроновCeB6Тип детекторавторичных электроновДругие характеристикимоторизованныйУвеличение
Макс.: 200 000 ед.
Мин.: 160 ед.
Разрешение
10 нм
