Рентгеновская дифракция (XRD) ADX-2500 предназначена для измерения микроструктуры, тестирования и углубленных исследовательских исследований. ADX-2500 XRD с различными аксессуарами и соответствующим программным обеспечением для управления и расчета представляет собой дифракционную систему, отвечающую практическим требованиям во многих областях. Рентгеновский дифрактометр ADX-2500 обеспечивает структурный анализ монокристаллических, поликристаллических и аморфных образцов. Рентгеновская дифракция ADX-2500 способна выполнять следующие функции: фазовый качественный и количественный анализ (RIR, калибровка внутреннего стандарта, калибровка внешнего стандарта, аддитивный критерий), индексирование структуры, определение и уточнение элементарной ячейки, определение размера и деформации кристаллитов, подгонка профиля. и уточнение структуры, определение остаточного напряжения, анализ текстуры (ODF выражает трехмерную полюсную фигуру), оценку кристалличности по площадям пиков, анализ тонких пленок и другие. Особенности — Идеальное сочетание аппаратного и программного обеспечения позволяет ADX-2500 рентгеновской дифракции выполнять различные типы анализа для исследователей из различных областей. — Высокая точность измерения угла дифракции позволяет ADX-2500 рентгеновской дифракции получать более точные данные, — Более высокая стабильность системы управления рентгеновским генератором обеспечивает превосходную точность измерений, — Простая и эффективная конструкция делает ADX-2500 XRD удобным в эксплуатации и удобным для пользователя. Программное обеспечение Общая обработка данных дифракции: автоматический поиск пиков, ручной поиск пиков, интегральная интенсивность, разделение Kα1, α2, удаление фона, сглаживание и увеличение структуры, множественный график,
Технические характеристики
ХарактеристикиТипРентгенПараметры монокристалл
