Wide — это специальная система, предназначенная для быстрого измерения больших площадей образцов до 300 x 300 мм. Он обеспечивает все преимущества цифрового микроскопа, интегрированного в измерительный прибор высокого разрешения. Чрезвычайно простой в использовании с помощью одной единственной кнопки. Система 3D оптической метрологии большой площади — Передовое производство — Археология и палеонтология — Бытовая электроника — Медицинские приборы — Литье — Оптика — Часовая промышленность Субмикронная повторяемость высоты на всей протяженной площади Измерение высоты одним выстрелом до 40 мм без Z-сканирования Бителецентрические линзы с очень низкими искажениями поля, обеспечивающими точную метрологию. Отклонение формы от моделей 3D CAD, обеспечивающее измерение геометрической разницы и допусков.
Технические характеристики
ХарактеристикиТехнологииоптические, 3DПриложения для промышленного применения, для крупных деталейКонфигурациянастольнаяДругие характеристикивысокоскоростная
