iPHEMOS-MPX — это эмиссионный микроскоп высокого разрешения, который определяет места сбоев в полупроводниковых устройствах путем обнаружения слабого светового и теплового излучения, вызванного дефектами. Возможна установка двух камер сверхвысокой чувствительности. Охват различных диапазонов длин волн обнаружения для анализа выбросов и термического анализа позволяет легко выбрать метод анализа, соответствующий образцу и типу разрушения. Возможность установки до 5 источников света для ОБИРЧ, ДАЛС и ЭОП. Высокочувствительная макролинза и до 10 линз, подходящих для каждой длины волны чувствительности детектора. Высокоточный столик, предназначенный для современных устройств. iPHEMOS-MPX накладывает изображение излучения на изображение шаблона высокого разрешения. быстро локализовать дефектные места. Функция повышения контрастности делает изображение более четким и детальным. Функция отображения Аннотации: комментарии, стрелки и другие индикаторы могут отображаться на изображении в любом желаемом месте. Отображение шкалы: Ширину шкалы можно отобразить на изображении с помощью сегментов. Отображение сетки: на изображении могут отображаться вертикальные и горизонтальные линии сетки. Отображение миниатюр: изображения можно сохранять и вызывать в виде миниатюр, а также отображать такую информацию об изображении, как координаты сцены. Отображение на разделенном экране: изображения шаблонов, изображения выбросов, наложенные изображения и эталонные изображения могут отображаться на экране с 6 окнами одновременно.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипоптическийТехническое применениелаборатория ЭргономикаперевернутаяДругие характеристикицифровая камера высокого разрешения
