Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS), также известная как электронная спектроскопия для химического анализа (ESCA), является зрелым и широко используемым методом анализа поверхности для характеристики материалов. XPS предоставляет количественную информацию об элементном и химическом состоянии из самых верхних 10 нм материала. Фотоэлектронный спектрометр AXIS Nova может собирать рентгеновские фотоэлектронные спектры и изображения из любого материала, который стабилен в условиях сверхвысокого вакуума, необходимых для этого метода.
Kratos AXIS Nova
Kratos AXIS Nova — товар из ассортимента Laserzz для подбора и поставки под задачи ремонта и комплектации.
Позиция подходит для сценариев замены и закупки под конкретную спецификацию оборудования.
Для корректного выбора сверяйте маркировку, параметры и совместимость с вашей схемой/узлом.
Вопросы и ответы
Как проверить совместимость товара?
Сравните артикул, технические параметры и формат исполнения с требованиями вашей модели оборудования.
Можно ли заказать партию?
Да, для партийных закупок доступны отдельные условия, ориентируйтесь на количество и сроки поставки.
