PHEMOS-1000 — это эмиссионный микроскоп высокого разрешения, который точно определяет места сбоев в полупроводниковых устройствах, обнаруживая слабые световые и тепловые излучения, вызванные дефектами полупроводниковых устройств. Поскольку PHEMOS-1000 можно использовать в сочетании с зондом общего назначения, вы можете выполнять различные аналитические задачи, используя уже знакомые образцы настроек. Установка дополнительной системы лазерного сканирования позволяет получать изображения шаблонов с высоким разрешением. Доступны различные типы детекторов для различных методов анализа, таких как эмиссионный анализ, термический анализ и анализ IR-OBIRCH. PHEMOS-1000 поддерживает широкий спектр задач и приложений, начиная от плат с разъемами зондов и заканчивая крупногабаритным зондом для пластин диаметром 300 мм.
| Dimensions/Weights | Main unit: 1340 mm (W)×1200 mm (D)×2110 mm (H), Approx. 1500 kg Control rack: 880 mm (W)×820 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 150 kg Operation desk: 1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg |
|---|---|
| Line voltage | AC200 V (50 Hz/60 Hz) |
| Power consumption | Approx. 1400 VA (Max. 3300 VA) |
| Vacuum | Approx. 80 kPa or more |
| Compressed air | 0.5 MPa to 0.7 MPa |
C11222-16 Эмиссионный микроскоп ФЕМОС-1000 C11222-16 — товар из ассортимента Laserzz для подбора и поставки под задачи ремонта и комплектации.
Позиция подходит для сценариев замены и закупки под конкретную спецификацию оборудования.
Для корректного выбора сверяйте маркировку, параметры и совместимость с вашей схемой/узлом.
Сравните артикул, технические параметры и формат исполнения с требованиями вашей модели оборудования.
Да, для партийных закупок доступны отдельные условия, ориентируйтесь на количество и сроки поставки.
