Вертикальный

Отображение 1–15 из 22

Заполнитель
Подробнее
Leica DM2700 M Вертикальный микроскоп для материалов
Заполнитель
Подробнее
Leica DM2700P для исследований и разработок
Заполнитель
Подробнее
Leica DM3XL Инспекционная система для микроэлектроники и полупроводников
Заполнитель
Подробнее
Leica DM4 M DM6 M Вертикальные микроскопы для материалов
Заполнитель
Подробнее
Leica DM4P для исследований и разработок
Заполнитель
Подробнее
Leica DM6 LIBS Решение для анализа состава микроструктуры
Заполнитель
Подробнее
Leica DM8000M DM12000 M RL Высокопроизводительная система контроля качества
Заполнитель
Подробнее
THUNDER Imager Ткань
Заполнитель
Подробнее
Вертикальные микроскопы Leica для поляризации
Заполнитель
Подробнее
Лазерные микроскопы для микродиссекции Leica LMD6 LMD7
Заполнитель
Подробнее
Лейка DM1750M
Заполнитель
Подробнее
Лейка DM2700M
Заполнитель
Подробнее
ЛЕЙКА DM3000
Заполнитель
Подробнее
Лейка DM4 DM6
Leica DM500 / DM750
Подробнее
Лейка DM500 / DM750