Лабораторное оборудование

Отображение 931–945 из 2273

Микроскоп большого увеличения AM4515T8оптоцифровойдля анализадля исследований
Подробнее
Микроскоп большого увеличения AM4515T8оптоцифровойдля анализадля исследований
Микроскоп большого увеличения AM7515MT4A оптико-цифровой контрольный с коаксиальным освещением
Подробнее
Микроскоп большого увеличения AM7515MT4A оптико-цифровой контрольный с коаксиальным освещением
Микроскоп большого увеличения AM7515MT8A оптико-цифровой контрольный с коаксиальным освещением
Подробнее
Микроскоп большого увеличения AM7515MT8A оптико-цифровой контрольный с коаксиальным освещением
Микроскоп высокоскоростной AM73115MZT - USB3.0оптоцифровойцифровойдля анализа
Подробнее
Микроскоп высокоскоростной AM73115MZT — USB3.0оптоцифровойцифровойдля анализа
Микроскоп высокоскоростной AM73115MZTL - USB3.0оптоцифровойцифровойдля анализа
Подробнее
Микроскоп высокоскоростной AM73115MZTL — USB3.0оптоцифровойцифровойдля анализа
Микроскоп высокоскоростной AM73915MZTL - USB3.0оптоцифровойцифровойлабораторный
Подробнее
Микроскоп высокоскоростной AM73915MZTL — USB3.0оптоцифровойцифровойлабораторный
Микроскоп высокоскоростной АМ73915МЗТ - USB3.0оптоцифровойцифровойлабораторный
Подробнее
Микроскоп высокоскоростной АМ73915МЗТ — USB3.0оптоцифровойцифровойлабораторный
Микроскоп для анализа B-383PHдля анализа материаловтринокулярныйсветлое поле
Подробнее
Микроскоп для анализа B-383PHдля анализа материаловтринокулярныйсветлое поле
Микроскоп для анализа материалов DM1750 Moopticalinspectionвертикальный
Подробнее
Микроскоп для анализа материалов DM1750 Moopticalinspectionвертикальный
Микроскоп для анализа материалов ZEISS Axio Lab.A1поляризационнаяцифровая камера
Подробнее
Микроскоп для анализа материалов ZEISS Axio Lab.A1поляризационнаяцифровая камера
Микроскоп для анализа материалов ZEISS ORION NanoFabцифровая камера ионный пучок гелия
Подробнее
Микроскоп для анализа материалов ZEISS ORION NanoFabцифровая камера ионный пучок гелия
Микроскоп для анализа материалов, поляризационнаяцифровая камера
Подробнее
Микроскоп для анализа материалов, поляризационнаяцифровая камера
Микроскоп для анализа шероховатости поверхности ZEISS Smartproof 5для контроля поверхностидля контроля материалов
Подробнее
Микроскоп для анализа шероховатости поверхности ZEISS Smartproof 5для контроля поверхностидля контроля материалов
Микроскоп для захвата изображений, профиль IM•Moptical, для анализа, инвертированный
Подробнее
Микроскоп для захвата изображений, профиль IM•Moptical, для анализа, инвертированный
Микроскоп измерительный MF-A/Bоптическийцифровая камеравысокого разрешения
Подробнее
Микроскоп измерительный MF-A/Bоптическийцифровая камеравысокого разрешения