Лабораторное оборудование для клеточных культур: микропланшеты, тестовые картриджи, цифровые микроскопы

Отображение 1681–1710 из 2273

Система подготовки проб газа PSS5
Подробнее
Система подготовки проб газа PSS 5
Система подготовки проб газа ПСС10-1
Подробнее
Система подготовки проб газа ПСС 10-1
Система подготовки проб газа серии СС-5/3
Подробнее
Система подготовки проб газа серии СС-5/3
Система подготовки проб газа СС-5
Подробнее
Система подготовки проб газа СС-5
Система подготовки проб для окраски электростанции EM CPD300
Подробнее
Система подготовки проб для окраски электростанции EM CPD 300
Система подготовки проб для СЭМ EM ACE900polymer
Подробнее
Система подготовки проб для СЭМ EM ACE 900 polymer
Система подготовки проб для СЭМ EM FC7 для создания тонких пленок
Подробнее
Система подготовки проб для СЭМ EM FC7 для создания тонких пленок
Система подготовки проб для СЭМ EM VCT500
Подробнее
Система подготовки проб для СЭМ EM VCT 500
Система подготовки проб полимеров EM AFS2
Подробнее
Система подготовки проб полимеров EM AFS2
Сканирующий зондовый микроскоп NX10для исследованийвысокого разрешения
Подробнее
Сканирующий зондовый микроскоп NX10 для исследований высокого разрешения
Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Spectra Ultraдля контроля качествадля исследования материаловдля полупроводников
Подробнее
Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Spectra Ultra для контроля качества, для исследования материалов, для полупроводников.
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E SEMдля исследованийпромышленныйвторичный электрон
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E SEMдля исследованийпромышленныйвторичный электрон
Сканирующий электронный микроскоп Quattro ESEMдля контроля качествадля исследования материаловпромышленный
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп Quattro ESEM для контроля качества для исследования материалов промышленный.
Сканирующий электронный микроскоп ZEISS EVOдля лабораториидля анализа материаловдля контроля качества
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп ZEISS EVO для лаборатории для анализа материалов для контроля качества
Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионной эмиссией SU7000для анализа in-situBF-STEM
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионной эмиссией SU7000 для анализа in-situ BF-STEM
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Phenom Pharos G2для обучениядля контроля качествадля исследования материалов
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Phenom Pharos G2 для обучения, для контроля качества, для исследования материалов.
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SU8600для анализа3DХолодная полевая эмиссия
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SU8600 для анализа 3D. Холодная полевая эмиссия.
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 DualBeamдля исследования материалов3Dвысокого разрешения
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 DualBeam для исследования материалов 3D высокого разрешения.
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 Hydra серии DualBeamдля контроля качествадля исследования материалов3D
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 Hydra серии DualBeam для контроля качества для исследования материалов 3D.
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 PFIB DualBeamдля исследования материаловдля полупроводников3D
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 PFIB DualBeam для исследования материалов для полупроводников 3D
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5для контроля качествадля исследования материалов3D
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 для контроля качества для исследования материалов 3D
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Scios 2 DualBeamдля анализадля контроля качествадля исследований
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Scios 2 DualBeam для анализа, для контроля качества, для исследований.
Сканирующий электронный микроскоп серии SUмногофункциональныйдля анализадля контроля качества
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп серии SU — многофункциональный для анализа, для контроля качества.
Скребковый инструмент для подготовки проб Elcometer 1537
Подробнее
Скребковый инструмент для подготовки проб Elcometer 1537
Скребковый инструмент для подготовки проб Elcometer 1538
Подробнее
Скребковый инструмент для подготовки проб Elcometer 1538
Смеситель вакуумный АРВ-10кТВИН СЕпланетарно-центробежныйнепрерывного действиядля жидкостей
Подробнее
Смеситель вакуумный АРВ-10 кТВИН. Сепараметарно-центробежный непрерывного действия для жидкостей.
Смеситель периодического действия серии CCMдля жидкостейтвердых/жидкихпорошков
Подробнее
Смеситель периодического действия серии CCM для жидкосте твердых/жидких порошков
Смеситель периодического действия, порошок, гранулят, лабораторный
Подробнее
Смеситель периодического действия, порошок, гранулят, лабораторный.
СО2-инкубатор MCO-170AC-PElaboratory
Подробнее
СО₂-инкубатор MCO-170AC-PE Laboratory
СО2-инкубатор MCO-230AIC-PElaboratory
Подробнее
СО₂-инкубатор MCO-230AIC-PE Laboratory