Электронный микроскоп

Showing all 12 results

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп SU5000для анализа 3Din-situ
Подробнее
Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп SU5000 для анализа 3D in situ
Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп SU8700для анализанапольный Полевая эмиссия Шоттки
Подробнее
Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп SU8700 для анализа. Анализ на полевой эмиссии Шоттки.
Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Spectra Ultraдля контроля качествадля исследования материаловдля полупроводников
Подробнее
Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Spectra Ultra для контроля качества, для исследования материалов, для полупроводников.
Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионной эмиссией SU7000для анализа in-situBF-STEM
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионной эмиссией SU7000 для анализа in-situ BF-STEM
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Phenom Pharos G2для обучениядля контроля качествадля исследования материалов
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Phenom Pharos G2 для обучения, для контроля качества, для исследования материалов.
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SU8600для анализа3DХолодная полевая эмиссия
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SU8600 для анализа 3D. Холодная полевая эмиссия.
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 DualBeamдля исследования материалов3Dвысокого разрешения
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 DualBeam для исследования материалов 3D высокого разрешения.
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 Hydra серии DualBeamдля контроля качествадля исследования материалов3D
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 Hydra серии DualBeam для контроля качества для исследования материалов 3D.
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 PFIB DualBeamдля исследования материаловдля полупроводников3D
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 PFIB DualBeam для исследования материалов для полупроводников 3D
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5для контроля качествадля исследования материалов3D
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 для контроля качества для исследования материалов 3D
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Scios 2 DualBeamдля анализадля контроля качествадля исследований
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Scios 2 DualBeam для анализа, для контроля качества, для исследований.
Электронный микроскоп BK20Измерительный по БринеллюСветодиодная подсветка
Подробнее
Электронный микроскоп BK20. Измерительный по Бринеллю. Светодиодная подсветка.