Электронный микроскоп

Showing all 12 results

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп SU5000для анализа 3Din-situ
Подробнее
Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп SU5000для анализа 3Din-situ
Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп SU8700для анализанапольный Полевая эмиссия Шоттки
Подробнее
Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп SU8700для анализанапольный Полевая эмиссия Шоттки
Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Spectra Ultraдля контроля качествадля исследования материаловдля полупроводников
Подробнее
Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Spectra Ultraдля контроля качествадля исследования материаловдля полупроводников
Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионной эмиссией SU7000для анализа in-situBF-STEM
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионной эмиссией SU7000для анализа in-situBF-STEM
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Phenom Pharos G2для обучениядля контроля качествадля исследования материалов
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Phenom Pharos G2для обучениядля контроля качествадля исследования материалов
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SU8600для анализа3DХолодная полевая эмиссия
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SU8600для анализа3DХолодная полевая эмиссия
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 DualBeamдля исследования материалов3Dвысокого разрешения
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 DualBeamдля исследования материалов3Dвысокого разрешения
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 Hydra серии DualBeamдля контроля качествадля исследования материалов3D
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 Hydra серии DualBeamдля контроля качествадля исследования материалов3D
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 PFIB DualBeamдля исследования материаловдля полупроводников3D
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 PFIB DualBeamдля исследования материаловдля полупроводников3D
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5для контроля качествадля исследования материалов3D
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5для контроля качествадля исследования материалов3D
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Scios 2 DualBeamдля анализадля контроля качествадля исследований
Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Scios 2 DualBeamдля анализадля контроля качествадля исследований
Электронный микроскоп BK20Измерительный по БринеллюСветодиодная подсветка
Подробнее
Электронный микроскоп BK20Измерительный по БринеллюСветодиодная подсветка