Каталоги
Для этого продукта каталогов нет.
Просмотреть все каталоги ZwickRoell GmbH & Co. KG.
Технические характеристики
Наноиндентор для сканирования электронов микроскопы Области применения • — Измерение твердости по стандарту ISO 14577 • — Динамические испытания Испытательная нагрузка • — 0 — 0,2 Н Области применения • — Исследования и разработки (в SEM) Маленький, но мощный Наноиндентор ZHN/SEM для установки в сканирующий электронный микроскоп (SEM) позволяет проводить микромеханические эксперименты, наблюдая за образцом с максимальным разрешением. Он обладает самым большим из доступных на сегодняшний день диапазоном измерения с максимальным измерением смещения 200 мкм и максимальной силой 200 мН в сочетании с очень малошумящими датчиками силы и смещения в среде с низким уровнем вибрации. Жесткость инструмента настолько высока, что обычные измерения твердости можно выполнить без труда. Стандартная система разработана для установки на сценическую систему различных РЭМ, но также может монтироваться и на стенку камеры. С этой системой можно использовать существующие возможности наклона и позиционирования столика SEM. Система состоит из: • — измерительной головки с датчиками и приводом • — пьезосистемы для позиционирования образцов в направлении XY и опционального вращения вокруг оси индентора • — жесткого механического Z-предмета для перемещения измерительной головки в сторону образец • — ПК и контроллер • — простое в использовании, очень гибкое программное обеспечение • — один или два фланца с проходными отверстиями (специфично для SEM)
