Выбирайте надежный, быстрый и дотошный измерительный прибор, на который вы всегда можете рассчитывать. XM70 предназначен не только для испытаний по Виккерсу, но также для определения твердости по Кнупу и Бринеллю в полном соответствии с международными эталонными стандартами. Может использоваться как в производственном цеху, так и в лаборатории. Он оснащен специально разработанной оптической системой, которая в самой продвинутой версии также включает в себя лазер и панорамную линзу. И он может даже взаимодействовать с антропоморфными роботами для автоматической обработки тестовых образцов, а также иметь возможность взаимодействовать с основными компьютерными системами обработки данных. XM70 полностью воплощает футуристический и мощный дух Axiotek, примененный к испытаниям Vickers: здесь наша философия дизайна выражается во всей своей инновационной силе. Мы хотим предложить вам опыт, который означает интуитивность, простоту и удовольствие от использования. Мы хотим сделать вашу работу более комфортной, удовлетворяя ваши чувства. Только тогда вы сможете по-настоящему оптимизировать свое время. Выберите XM70-D5, если… Вы хотите измерить микро/макротвердость по Виккерсу, Кнупу и Бринеллю в соответствии с международными эталонными стандартами, включая ISO 6506, ISO 6507, ISO 4545, ASTM E10, ASTM E92, ASTM E384. Вы хотите измерить небольшие металлические предметы, даже очень тонкой толщины и сложной геометрии, с приложением чрезвычайно широкого диапазона усилий. Вы хотите выполнить сшивание и многочисленные испытания, оптимизируя свое время и используя преимущества полностью автоматизированной системы с чрезвычайно хорошим уровнем производительности, которая сочетает в себе максимальную производительность и скорость с уникальным комфортом использования. И все это с безупречной точностью измерений.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипВиккерс, Кнуп/ВиккерсКреплениенастольныйПрименение продуктадля контроля качества, для мелких деталей, для тонких заготовокДругие характеристикиавтоматический, микро, макрос с таблицей позиционирования XY
