Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

Тестер шероховатости

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Каталоги

Для этого продукта каталогов нет.

Просмотреть все каталоги SM srl

Технические характеристики

Постоянный технологический прогресс Увеличение количества измерительных устройств часто приводит к устареванию этих приборов, которые, хотя и по-прежнему эффективны и точны по своей механике, но устарели с точки зрения электроники и особенно интерфейсного программного обеспечения, предназначенного для оператора. В этих случаях допустимой альтернативой вместо покупки нового устройства является модернизация прибора. Благодаря комплекту интерфейса механическая и эксплуатационная часть исходной машины сохраняется, а элементы управления и программы ПК заменяются более современными приложениями, что позволяет восстановить машину. Существует два типа модернизации, которые можно адаптировать к измерителю шероховатости: первый заключается в подключении программного обеспечения Profile Studio для анализа профиля к исходной электронике с модулем шероховатости, а второй заключается в замене также управляющей электроники на одну из новейших моделей. поколение. Последнее решение применяется на очень старых устройствах или в тех случаях, когда неисправности существующей электроники не поддаются ремонту. Главной особенностью комплекта модернизации является программное обеспечение Profile Studio, позволяющее проводить все виды анализа и характеристики измеряемого профиля, которые раньше были немыслимы при использовании старого программного обеспечения, например, по одному и тому же профилю можно получить анализ шероховатости на одной области и определение геометрических размеров другой. Более того, благодаря сложным внутренним алгоритмам обновленный профилометр повышает точность, поскольку программное обеспечение способно моделировать и, следовательно, исправлять систематические ошибки измерений.