Микроскоп TEM и STEM высокого разрешения для всех применений в области материаловедения и полупроводников. Чтобы ученые могли улучшить свое понимание сложных образцов и разработать инновационные материалы, они должны иметь доступ к надежным и точным инструментам, способным соотносить форму и функцию, а также определять пространство, время и частоту. Thermo Fisher Scientific представляет Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM – сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп с самым высоким разрешением и коррекцией аберраций для всех материаловедческих исследований. Преимущества просвечивающего электронного микроскопа Spectra 300 Все микроскопы Spectra 300 (S)TEM поставляются на новых платформах, разработанных для обеспечения беспрецедентного уровня механической стабильности и высочайшего качества изображения за счет пассивной и (опционально) активной виброизоляции. Система размещена в полностью обновленном корпусе со встроенным экранным дисплеем для удобной загрузки и извлечения образцов. Впервые может быть предложена полная модульность и возможность модернизации между конфигурациями без коррекции и с одинарной коррекцией с переменной высотой, что обеспечивает максимальную гибкость для различных конфигураций помещений. Spectra 300 (S)TEM может быть дополнительно оснащен либо пистолетом с экстремально полевой эмиссией высокого энергетического разрешения (X-FEG)/Mono, либо пистолетом со сверхвысоким энергетическим разрешением X-FEG/UltiMono. Монохроматоры обоих источников автоматически возбуждаются и настраиваются одним щелчком мыши для достижения максимально возможного энергетического разрешения в каждой конфигурации с помощью OptiMono или OptiMono+ соответственно (см. видео ниже).
Технические характеристики
ХарактеристикиТипTEMТехническое применениедля исследование материалов, для полупроводниковДругие характеристикивысокое разрешение
