Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

TEM-микроскоп Spectra 200для контроля качествадля исследования материаловдля полупроводников

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Высокопроизводительный микроскоп TEM и STEM для всех приложений в области материаловедения. Чтобы ученые могли улучшить свое понимание сложных образцов и разработать инновационные материалы, они должны иметь доступ к надежным и точным инструментам, способным соотносить форму и функцию, а также определять пространство, время и частоту. Thermo Fisher Scientific представляет Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM, высокопроизводительный трансмиссионный (сканирующий) электронный микроскоп с коррекцией аберраций для всех приложений в области материаловедения. Преимущества сканирующего просвечивающего электронного микроскопа Spectra 200 Все микроскопы Spectra 200 (S)TEM поставляются на новых платформах, разработанных для обеспечения беспрецедентного уровня механической стабильности и высочайшего качества изображения за счет пассивной и (опционально) активной виброизоляции. Система размещена в полностью переработанном корпусе со встроенным экранным дисплеем для удобной загрузки и извлечения образцов. Впервые полная модульность и возможность модернизации могут быть предложены между конфигурациями без коррекции и с одинарной коррекцией с переменной высотой, что обеспечивает максимальную гибкость для различных конфигураций помещений. Spectra 200 (S)TEM может работать от нового пистолета с холодной автоэмиссионной эмиссией (X-CFEG). X-CFEG имеет чрезвычайно высокую яркость (>>1,0 x 108 А/м2/Ср/В*), низкий разброс по энергии и может работать в диапазоне напряжений 30–200 кВ. Это обеспечивает получение изображений STEM с высоким разрешением и высокими токами зонда для высокопроизводительного и быстрого сбора данных STEM-аналитики. Благодаря мощному сочетанию корректора аберраций зонда X-CFEG и S-CORR можно регулярно получать изображения STEM субангстрема с током зонда более 1000 пА.

Технические характеристики

ХарактеристикиТипTEMТехническое применениедля контроль качества, для исследования материалов, для полупроводниковИсточник электроновхолодная полевая эмиссияКонструкция линзыКорректор аберраций Другие характеристикивысокое разрешение