Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

STEM-микроскоп Talos F200X G2для анализадля исследованийпромышленный

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

TEM-микроскоп для TEM и STEM высокого разрешения с точным количественным химическим анализом. Thermo Scientific Talos F200X STEM — это сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп, который сочетает в себе выдающиеся возможности получения изображений STEM и TEM с высоким разрешением и ведущим в отрасли обнаружением сигналов с помощью энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS). Химическая характеристика 2D/3D с картированием состава выполняется с помощью 4 встроенных в колонку детекторов SDD Super-X с уникальной чистотой. Сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп Talos F200X обеспечивает самый быстрый и точный анализ EDS во всех измерениях, а также получение изображений TEM и STEM с высоким разрешением (HRTEM и HRSTEM) с быстрой навигацией для динамической микроскопии. Сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп Talos F200X также отличается пониженной чувствительностью к окружающей среде, корпус прибора смягчает воздействие волн давления воздуха, потоков воздуха и небольших колебаний температуры в помещении для ПЭМ. STEM-визуализация и химический анализ Talos F200X (S)TEM обеспечивает быстрое, точное и количественное определение характеристик наноматериалов в нескольких измерениях. Благодаря инновационным функциям, предназначенным для повышения производительности, точности и простоты использования, Talos F200X (S)TEM идеально подходит для передовых исследований и анализа в академических, государственных, полупроводниковых и промышленных средах. В последнее время возросла потребность в корреляционных изображениях больших территорий с высоким разрешением, поскольку это позволяет исследователям сохранять контекст своих наблюдений, а также предоставляет статистически надежные данные.

Технические характеристики

ХарактеристикиТипSTEMТехнические применениядля для анализа, для исследований, промышленный, для полупроводниковТехника наблюдения3DДругие характеристикивысокое разрешениеРазрешение

0,1 нм, 0,14 нм, 0,16 нм