Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом Helios 5 Hydra серии DualBeamдля контроля качествадля исследования материалов3D

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!
Артикул: Helios 5 Hydra DualBeam series TME арт.: Helios 5 Hydra DualBeam series

Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam (сканирующий электронный микроскоп с ионно-лучевой схемой плазменной фокусировки, PFIB-SEM) — это универсальный многофункциональный инструмент, который имеет четыре различных типа ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет вам выбирать ионы. которые обеспечивают наилучшие результаты для образцов, включая металлы, батареи, волокнистые композиты и биологические ткани. Отличные результаты начинаются с подготовки проб, независимо от того, выполняете ли вы подготовку проб для сканирующей трансмиссионной электронной микроскопии (STEM) и трансмиссионной электронной микроскопии (TEM), трехмерную характеристику материалов или клеточную криотомографию. Вы можете легко переключаться между аргоном, азотом, кислородом и ксеноном менее чем за десять минут, не жертвуя при этом производительностью. Эта беспрецедентная гибкость значительно расширяет потенциальное пространство применения PFIB и позволяет исследовать взаимодействия ионов с пробами для оптимизации существующих вариантов использования. Helios 5 Hydra DualBeam сочетает в себе новую инновационную плазменную колонку FIB с несколькими ионами (PFIB) и монохромную колонку Thermo Scientific Elstar UC+ SEM для обеспечения улучшенных характеристик сфокусированных ионных и электронных лучей. Интуитивное программное обеспечение, беспрецедентный уровень автоматизации и простота использования позволяют наблюдать и анализировать соответствующие объемы недр. Преимущества Helios 5 Hydra DualBeam Несколько видов ионов плазмы Позволяет многофункциональным лабораториям быстро переключаться между четырьмя видами ионов (Xe, Ar, O и N) для оптимизации работы с самыми разными образцами: от кремния и металлов до клеток

Технические характеристики

ХарактеристикиТипсфокусированное ионное сканирование электроновТехнические применения для контроля качества, для исследования материаловТехника наблюдения3DИсточник ионовплазма, ксенон, аргон span>Другие характеристикивысокое разрешениеРазрешение

0,6 нм, 0,7 нм, 1 нм, 1,2 нм

</div