Подготовка проб для визуализации TEM и STEM или атомно-зондовой томографии. Простота в использовании благодаря усовершенствованной автоматизации. Возможность высококачественного трехмерного описания недр. Подготовка проб FIB Новый Thermo Scientific Helios 5 DualBeam основан на высокопроизводительных возможностях визуализации и анализа ведущего в отрасли семейства Helios DualBeam. Он тщательно разработан для удовлетворения потребностей исследователей и инженеров в области материаловедения в широком спектре случаев применения сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) – даже для самых сложных образцов. Helios 5 DualBeam переопределяет стандарты визуализации с высоким разрешением благодаря высокой контрастности материалов, быстрой, простой и точной высококачественной подготовке образцов для (S)TEM-визуализации и атомно-зондовой томографии (APT), а также высококачественному исследованию недр и 3D-характеристика. Опираясь на проверенные возможности семейства Helios DualBeam, были разработаны дополнительные усовершенствования нового Helios 5 DualBeam, обеспечивающие оптимизацию системы для различных ручных или автоматизированных рабочих процессов. Эти улучшения включают в себя: • Повышенная простота использования: Helios 5 DualBeam — это наиболее доступный DualBeam для пользователей любого уровня опыта. Обучение операторов может быть сокращено с месяцев до нескольких дней, а конструкция системы помогает всем операторам достигать последовательных, повторяемых результатов в широком спектре сложных приложений. •Повышенная производительность: расширенные возможности автоматизации, повышенная надежность и стабильность программного обеспечения Helios 5 DualBeam и Thermo Scientific AutoTEM 5 могут значительно увеличить производительность подготовки проб, позволяя выполнять работу без присмотра и даже в ночное время.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипсфокусированное ионное сканирование электроновТехнические применения для материаловеденияТехника наблюдения3DДругие характеристикивысокое разрешение, автоматизированное, высокоскоростное span>Разрешение
Макс.: 1,5 нм
Мин.: 0,3 нм
