КаталогиLeica EM RES10212 СтраницыLeica EM TXP10 СтраницыLeica EM AFS28 Страницы
Технические характеристики
Тонкий, чистый, полируйте, вырезайте наклоны и структурируйте свои образцы с высочайшим уровнем гибкости Leica EM RES102. Уникальная система ионного измельчения сочетает в себе подготовку образцов TEM, SEM и LM в одном настольном блоке. Разнообразие держателей образцов позволяет выполнять самые разнообразные задачи. Помимо измельчения высокоэнергетическими ионными лучами, Leica EM RES102 также может использоваться для очень щадящей обработки образцов с использованием низкой энергии ионов. Основные характеристики Эффективность и экономичность • — Одна система для приложений TEM, SEM и LM • — Подготовка образцов диаметром до 25 мм с помощью SEM • — Повышенная эффективность подготовки образцов TEM за счет создания больших электронно-прозрачных областей для анализа TEM • — LAN возможность дистанционного управления и мониторинга. Безопасный. Моторизованный источник ионов и движения пробы с полным программным управлением для воспроизводимых результатов. Охлаждение столика для проб в родных образцах LN2 для поддержания целостности чувствительных к температуре проб. Простота эксплуатации • — Встроенная библиотека приложений • — Встроенные справочные файлы и обучающие видеоролики для начинающих и обслуживание
