Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

SEM-микроскоп Volumescope 2для исследования материалов3Din-situ

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

3D SEM для образцов большого объема с последовательной визуализацией граней блоков и мультиэнергетической деконволюцией. Сканирующий электронный микроскоп Volumescope 2 для серийной визуализации лица. Сканирующий электронный микроскоп Volumescope 2 (SEM) компании Thermo Scientific Volumescope 2 — это наша современная система серийного формирования изображения лица. Контролируйте эксперименты с помощью простой в использовании технологии и защитите широкий спектр возможных образцов с помощью проверенных решений для каждого этапа сбора данных. Блокирование изображений лица. Раскрытие сложной трехмерной архитектуры клеток и тканей в их естественном контексте имеет решающее значение для корреляции структуры и функции в биологических системах и мягких материалах. Серийный блочный СЭМ (SBF-SEM) сочетает в себе срезы in situ и визуализацию залитых пластиком блоков ткани в вакуумной камере СЭМ для автоматизированной трехмерной реконструкции больших объемов тканей. Осевое разрешение когда-то было ограничено минимальной толщиной сечения, но теперь возможно истинно изотропное разрешение с добавлением многоэнергетической деконволюции. 3D SEM После разреза лицевой поверхности блока in situ с помощью алмазного ножа несколько раз визуализируется только что обнаженная ткань, используя увеличивающееся ускоряющее напряжение. Эти изображения впоследствии используются в алгоритме деконволюции для получения нескольких оптических подповерхностных слоев, образующих трехмерное подмножество. Повторяя этот цикл, Volumescope 2 SEM предлагает наборы изотропных данных с Z-разрешением 10 нм. Полимерные микроструктуры Трехмерное изображение высокого разрешения имеет большое значение при попытке понять микроструктуру и свойства полимерных материалов.

Технические характеристики

ХарактеристикиТипSEMТехнические применениядля исследование материаловМетодика наблюдений3D, in-situДругие характеристикивысокое разрешение, автоматизированноеРазрешение

0,7 нм, 0,8 нм, 1 нм