Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

СЭМ-микроскоп серии TM4000для анализа и измерения контрастности атомных номеров

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Серия TM4000 отличается инновационными и передовыми технологиями, которые переопределяют возможности настольного микроскопа. Это новое поколение давно выпускаемых настольных микроскопов Hitachi (TM) сочетает в себе простоту использования, оптимизированную визуализацию и высокое качество изображения, сохраняя при этом компактный дизайн хорошо зарекомендовавших себя продуктов серии Hitachi TM. Откройте для себя новое измерение настольных микроскопов с Hitachi TM4000 II и TM4000Plus II. Интуитивное управление камерой Navi * Использование оптических изображений помогает легко ориентироваться в целевой зоне наблюдения. Полученные изображения SEM можно накладывать на изображение SEM MAP. Создатель отчетов Просто выберите изображения и шаблон для создания индивидуальных отчетов. Созданные отчеты можно сохранять/редактировать в форматах Microsoft Office®. Режим снижения заряда Заряд на образце можно уменьшить одним щелчком мыши. Изучите различные материалы в условиях низкого вакуума. На изображениях показаны непроводящие образцы, такие как частицы чернильного тонера и гидратированная поверхность листьев. Инновационный детектор вторичных выборов для получения деталей поверхности непроводящих образцов в условиях более низкого вакуума. TM4000Plus II может наблюдать не только проводящие образцы, но также непроводящие или гидратированные образцы без подготовки образцов. Переключение между BSE и SE можно легко выполнить. Высокочувствительный низковакуумный SE-детектор (UVD) UVD-детектор Hitachi генерирует изображения вторичных электронов путем обнаружения видимого света, возбуждаемого взаимодействием электронного газа. Преимущества ускоряющего напряжения 20 кВ Высокое ускоряющее напряжение обеспечивает более высокую скорость ЭДС-анализа. Данные картографии EDS на 20 кВ за 2 мин.

Технические характеристики

ХарактеристикиТипSEMТехнические применениядля анализ, измерениеТехника наблюденийКонтраст атомного числа, топографияКонфигурацияНастольный, компактныйДетектор типобратно-рассеянный электрон, вторичный электронДругие характеристикипростая установка, цифровая камера, высокое разрешение, автоматизированная, обработка изображений, экономичность , моторизованный, для наук о Земле, для нанотехнологий, для работы с воздухом/жидкостью, топографии, с функцией профилирования, сканирование с переменным давлением, для интеграционного микроскопа и профилометра, для идентификации асбеста, для плоских образцов, высококонтрастный, для полированных образцов, с большим увеличениемУвеличение

Мин.: 10 ед.

Макс.: 25 000 054 ед.

Вес

54 кг (119 фунтов)

Длина

614 мм, 617 мм (24,2 дюйма)

Ширина

330 мм (13 дюймов)

Высота

547 мм (21,5 дюйма)