Настольные приложения Phenom XL G2 для СЭМ Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Thermo Scientific Phenom XL G2 нового поколения автоматизирует процесс контроля качества, обеспечивая точные, воспроизводимые результаты и одновременно высвобождая время для работы с добавленной стоимостью. Настольный SEM Phenom XL G2 позволяет: • Получать информацию о качестве, необходимую для раннего обнаружения сбоев и быстрой корректировки производственного процесса при необходимости. • Автоматизируйте контроль качества для обработки большого объема проб с меньшим риском человеческой ошибки. • Быстро освоитесь с совершенно новым, простым в освоении интерфейсом, который идеально подходит для широкого спектра приложений. Настольный SEM Phenom XL G2 обеспечивает полноэкранное изображение и среднее время обработки изображения 60 секунд. Уникальный источник электронов CeB6 обеспечивает длительный срок службы и требует меньшего обслуживания. Компактный форм-фактор требует мало места в лаборатории, что позволяет разместить микроскоп именно там, где он вам нужен. Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom XL G2, совместимый с аргоном. Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM), совместимый с аргоном Phenom XL G2, автоматизирует ваши рабочие процессы, обеспечивая при этом стабильную, инертную среду для исследования реактивных образцов. Аргон-совместимый настольный СЭМ Phenom XL G2 предлагает для ваших исследований: • Инертную среду для проведения реактивных исследований таких образцов, как твердотельные литиевые батареи • Способ, позволяющий проводить пробоподготовку и анализ СЭМ/EDX в одном и том же рабочем пространстве. • Более безопасный способ взаимодействия с высоколетучими образцами, такими как твердотельный литий, что позволяет создать новое поколение более долговечных и экологически чистых батарей.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипSEMТехнические применениядля контроль качестваКонфигурациянастольный, маленькийИсточник электроновCeB6Тип детектора вторичный электрон, обратно рассеянный электронУвеличение
Мин.: 160 единиц
Макс.: 200 000 единиц
Разрешение
10 нм