Настольный сканирующий электронный микроскоп для производства и исследования аккумуляторов. Усовершенствованный анализ материалов аккумуляторов Phenom Desktop SEM предназначен для анализа материалов аккумуляторов. В производстве аккумуляторов и исследованиях качество материалов становится критически важным. Например, небольшие загрязнения в порошке NCM могут иметь катастрофические последствия для конечного продукта. Для эффективного отслеживания этих загрязнителей необходимы изображения СЭМ высокого разрешения с химическим анализом ЭДС. При полной автоматизации эта комбинация является мощным инструментом для контроля качества порошков. Ключевые особенности Phenom ParticleX Battery Desktop SEM Классификация проводимости Каждый класс частиц может быть помечен с указанием проводимости частиц, что позволяет сортировать частицы по проводимости. Это позволяет гораздо точнее оценить воздействие загрязнения, поскольку небольшое органическое загрязнение не так серьезно, как металлическое проводящее загрязнение. Троичная диаграмма Чтобы просмотреть общий химический состав совокупности частиц, можно создать тройную диаграмму, на которой представлены все частицы. Благодаря Ni, Co и Mn на каждой оси можно мгновенно увидеть прошлые годы и общие тенденции.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипSEMТехнические применениядля анализ, контроль стали, для контроля качества, для анализа материалов, для аккумулятораКонфигурациянастольный, маленькийТип детекторавторичный электрон, обратнорассеянный электронДругие характеристикивысокое разрешение, автоматизированноеУвеличение
Макс.: 200 000 ед.
Мин.: 160 ед.
Разрешение
10 нм
