Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

СЭМ-микроскоп Axia ChemiSEMдля анализадля контроля качествадля анализа материалов

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Прибор SEM EDS, который является гибким, простым в использовании и обеспечивает мгновенный количественный элементный анализ. СЭМ-визуализация и элементный анализ ЭДС. Несмотря на то, что сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) добилась огромных успехов, новые пользователи могут рассматривать ее как сложный метод. Подготовка проб, согласованность, стоимость владения и трудности с аналитическими методами препятствуют широкому внедрению. Мы намеревались решить эти проблемы, чтобы создать по-настоящему доступный SEM без ущерба для гибкости. Нашей целью было сделать микроскопию простым и приятным занятием, в котором вам не придется бороться с микроскопом, чтобы получить качественные данные. Результатом стал сканирующий электронный микроскоп Thermo Scientific Axia ChemiSEM, система, в которой получение данных SEM-EDS больше не является рутинной работой. EDS больше не является второстепенной мыслью: химические данные и визуализация теперь стали одним целым. Анализ SEM EDS Axia ChemiSEM отличается от традиционных SEM тем, что он всегда собирает данные EDS в фоновом режиме. Он использует уникальные алгоритмы для одновременной обработки сигналов SEM и EDS, что позволяет отображать морфологию и количественный элементный состав образца вместе в режиме реального времени. Он постоянно обрабатывает данные EDS в фоновом режиме, предоставляя вам актуальные обновления элементарных данных по мере их получения. Элементы, обнаруженные в образце, можно включать и отключать, что позволяет изолировать интересующие области. Axia ChemiSEM отличается превосходным пользовательским интерфейсом, улучшенным за счет автоматизации, такой как технология SmartAlign для работы без выравнивания, недавно разработанные автоматические функции и количественное картирование EDS в реальном времени.

Технические характеристики

ХарактеристикиТипSEMТехнические применениядля анализа, для контроля качества, для анализа материаловКонфигурациянапольныйТип детектораобратно-рассеянные электроны >Другие характеристикиавтоматическоеРазрешение

3 нм, 7 нм, 8 нм