Сканирующий электронный микроскоп для универсального и высокопроизводительного сканирования и анализа материалов. Передовым лабораториям по определению характеристик материалов требуется доступ к новейшим технологиям, и они будут использовать аналитические инструменты, включая SEM, до предела своих возможностей. Большинство этих лабораторий представляют собой многопользовательские учреждения, рассчитанные на пользователей с разной степенью опыта. Время, проведенное за микроскопом, драгоценно, поэтому следует избегать чрезмерных затрат времени на обслуживание, юстировку, обучение или оптимизацию изображения. Сканирующий электронный микроскоп Apreo 2 Новый РЭМ Thermo Scientific Apreo 2 расширяет доступ к высокопроизводительной визуализации и аналитике для всех уровней микроскопии. Благодаря технологии Thermo Scientific ChemiSEM, уникальной возможности визуализации элементов в реальном времени, информация о составе всегда доступна через интуитивно понятный интерфейс. Устраняя все хлопоты, связанные с типичными реализациями EDS, технология ChemiSEM обеспечивает беспрецедентное время получения результата и простоту использования. СЭМ Apreo 2 предъявляет гораздо меньшие требования к пользователям и руководителям лабораторий благодаря технологии Thermo Scientific SmartAlign — оптической системе, которая выравнивается сама. Кроме того, Apreo 2 SEM автоматизирует процесс точной настройки изображения с помощью технологии Thermo Scientific FLASH. Технология FLASH выполняет все необходимые корректировки центрирования линзы, стигматоров и окончательной фокусировки изображения. Сочетание этих технологий означает, что пользователи, впервые знакомые с электронной микроскопией, смогут получить доступ к высокопроизводительному РЭМ Apreo 2. Кроме того, Apreo 2 SEM — единственный SEM с разрешением 1 нанометр и аналитическим рабочим расстоянием 10 мм. Большое рабочее расстояние больше не означает плохое качество изображения.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипSEMТехнические применениядля анализ, метрология, для контроля качества, для исследования материалов, для полупроводниковТип детектораEBSDДругие характеристикибольшое рабочее расстояние , высокая контрастностьРазрешение
0,8 нм, 0,9 нм, 1 нм, 1,2 нм
