Сочетание удобства использования и производительности выводит вашу лабораторную работу на новый уровень, предоставляя вам более качественную информацию и более глубокое понимание, что позволяет вам более эффективно находить ответы, совершенствовать свои материалы, расширять свои знания и расширять границы науки. Освобождение вашего времени для занятий интересной наукой. Над каким бы проектом вы ни работали, быстрое получение информации о фазе из рассматриваемого образца может иметь решающее значение для вашего исследования. Просто соберите данные дифракции рентгеновских лучей с помощью Aeris Research, а затем используйте пакет HighScore для получения обширной кристаллографической информации. Благодаря конфигурациям измерений, включая дифракцию рентгеновских лучей на отражение, пропускание и скользящее падение (GIXRD), у вас есть все необходимое для получения наилучших данных для любого типа поликристаллического материала. Aeris — простой в эксплуатации и удобный настольный рентгеновский дифрактометр. Благодаря интуитивно понятному управлению Aeris делает дифракцию рентгеновских лучей настолько простой, что она доступна каждому. Уникальный пользовательский интерфейс с сенсорным экраном позволяет вам легко выполнять процесс измерения ваших образцов. Ваши результаты всегда доступны всего в несколько нажатий: 1. Разместите образец 2. Выберите программу измерений 3. Просмотрите результаты
Технические характеристики
ХарактеристикиТипРентген
