Программное обеспечение для 3D-анализа Waveline Map позволяет вам собирать конкретные данные о профиле и поверхности ваших заготовок — в дополнение к измерению шероховатости. Измерительные системы Waveline от Jenoptik можно использовать для измерения шероховатости или контура. Мы также предлагаем системы, сочетающие в себе обе эти функции. Измерительные системы Waveline T8000, Surfscan и Nanoscan Jenoptik можно расширить с помощью программного обеспечения для 3D-анализа топографии. Программное обеспечение Waveline Map позволяет отображать текстуру поверхности заготовок в виде графики для оценки. Waveline Map интуитивно понятен и прост в использовании. Например, измеренные данные могут быть предварительно обработаны для выравнивания, фильтрации и удаления формы. Автоматические перерасчеты выполняются при изменении шагов оценки. Система предоставляет широкие возможности метрологической и научной фильтрации. Программное обеспечение для 3D-анализа доступно в трех версиях: Basic, Expert и Premium. Версии Expert и Premium соответствуют стандарту ISO/TS 25178 для параметров 3D. Помимо программного обеспечения для топографических измерений также требуется таблица позиционирования по оси Y. Это облегчает необходимое перемещение заготовки. Столы могут вмещать компоненты весом до 30 кг и работать с точностью направляющих около 5 мкм. Преимущества • Гибкость: при необходимости может использоваться на измерительных станциях для измерения шероховатости • Простота: интуитивно понятное программное обеспечение легко использовать • Быстрота: автоматический перерасчет после изменений в этапах оценки • Модульность: три версии, дополняющие друг друга Применение • Исследования и разработки: Трибологические исследования для оптимизации функций поверхности
Технические характеристики
ХарактеристикиФункциианализ, графика, позиционированиеПрименениедля автомобильной промышленности, для метрологииТип3DОперационная системаWindows
