Компактный оптический профилировщик микроструктур и шероховатости TopMap Micro.View® — это компактная измерительная система семейства интерферометров белого света TopMap, обеспечивающая повторяемые проверки с высоким разрешением и оценку структурных деталей поверхности, текстуры поверхности и параметров шероховатости поверхности. Благодаря встроенной технологии непрерывного сканирования CST ход 100 мм по оси Z обеспечивает полный диапазон измерения 100 мм с вертикальным разрешением в диапазоне нанометров. Этот оптический профилометр отличается компактной конструкцией со встроенной электроникой и впечатляет простотой использования – например, благодаря функции автоматического поиска фокуса для быстрых и эффективных измерений в производственных условиях и испытательных лабораториях. + Полномасштабный и трехмерный топографический анализ шероховатостей, текстур и микроструктур + Компактная система профилирования для анализа деталей поверхности + Большой вертикальный диапазон измерения 100 мм с технологией непрерывного сканирования CST + Превосходное поперечное разрешение + Цели конкретного применения Свяжитесь с нами для демонстрации и технико-экономического обоснования вашего конкретные образцы и дополнительную информацию.
Технические характеристики
ХарактеристикиТехнологияоптическая, 3D, интерферометрия белого света, интерферометрическаяФункцияшероховатость поверхности, плоскостность поверхности, измерение формы, для измерения толщины, геометрии, для тонкопленочного анализа, контура, мониторинга деформацииПрименениепромышленность, управление, для лабораторий, для производственных линий, для токарных деталей, для микролинз, для автомобильной промышленности, для полупроводниковКонфигурациянастольная, компактнаяДругие характеристикибесконтактный, неразрушающий, в линию
