Метрологические системы ZYGO Compass™ 2 устанавливают эталон автоматизированной бесконтактной 3D-метрологии поверхности и управления процессами для дискретных микролинз и форм, критически важных для компактных модулей камер, используемых в смартфонах, планшетах и автомобильных системах технического зрения. В их основе лежит технология когерентной сканирующей интерферометрии (CSI) ZYGO, которая обеспечивает лучшую в отрасли точность, универсальность и скорость для повторяемых метрологических измерений и контроля производственного процесса. Доступны две модели систем Compass 2, в зависимости от ваших метрологических потребностей. • Compass 2 – передовое решение ZYGO для точной метрологии формы поверхности микролинз, отклонения от предписания и реляционных/размерных параметров. Это идеальный выбор для приложений, требующих анализа вращательно-симметричных сферических и асферических, геометрически усеченных поверхностей и поверхностей произвольной формы. • Compass RT – быстрая и гибкая система для точной метрологии реляционных/размерных параметров микролинз, а также общих приложений профилометрии. Это идеальный выбор, когда не требуется метрология отклонений формы. Проверенные на производстве технологии В основе системы Compass 2 лежит технология оптического профилометра ZYGO на основе CSI, которая обеспечивает лучшую в отрасли точность, универсальность и скорость для повторяемых метрологических измерений и контроля производственного процесса. Уникальными для Compass™ и Compass™ RT являются асферическая метрология формы и отклонений, а также реляционная/размерная метрология характеристик центровки.
Технические характеристики
ХарактеристикиТехнологияоптическая, 3D, интерферометрия белого света, интерферометрическаяФункцияшероховатостьПрименениеконтроль, для микролинзКонфигурациянастольный, компактныйДругие характеристикибесконтактный, с поворотным позиционирующим элементом
