Уникальной характеристикой сканирующей акустической микроскопии является ее способность неразрушающим образом исследовать внутреннюю часть непрозрачных материалов с разрешением оптической световой микроскопии. Новый образ мышления и дальновидные идеи лежат в основе наших успешных концепций передовых технологий сканирующей акустической микроскопии. Практически во всех областях современной науки и техники возросли требования к инновационным, передовым решениям для неразрушающего получения изображений с помощью сканирующей акустической микроскопии. PVA TePla Analytical Systems разрабатывает, производит и поставляет сканирующие акустические микроскопы. Наши уникальные датчики с частотами от 3 до 2000 МГц расширяют разрешение визуализации и анализа за пределы ранее достижимых пределов.
Технические характеристики
ХарактеристикиТипоптическийТехническое применениеизмерительный Другие характеристикисканирование акустическое
