Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

Оптическая система измерения толщины NanoGauge C12562-04

Система измерения толщины Optical NanoGauge C12562 представляет собой компактную, компактную бесконтактную систему измерения толщины пленки, предназначенную для простой установки в оборудовании, где это необходимо. В полупроводниковой промышленности измерение толщины кремния имеет важное значение из-за распространения технологии сквозного кремния, а в индустрии производства пленок адгезионный слой становится все тоньше, чтобы соответствовать спецификациям продукта. Таким образом, эти отрасли теперь требуют еще более высокой точности измерения толщины в диапазоне от 1 мкм до 300 мкм. C12562 позволяет проводить точные измерения в широком диапазоне толщин от 500 нм до 300 мкм, включая толщину тонкопленочного покрытия и пленочной подложки, а также общую толщину. C12562 также предлагает быстрые измерения до 100 Гц, что делает его идеальным для измерений на высокоскоростных производственных линиях.

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Технические характеристики

Type numberC12562-04
Measurable film thickness range (glass)500 nm to 300 μm*1
Measurement reproducibility (glass)0.02 nm*2 *3
Measurement accuracy (glass)±0.4 %*3 *4
Light sourceHalogen light source
Spot sizeApprox. φ1 mm*3
Working distance10 mm*3
Number of measurable layersMax. 10 layers
AnalysisFFT analysis, Fitting analysis, Optical constant analysis
Measurement time3 ms/point*5
Fiber connector shapeFC
External control functionRS-232C, Ethernet
Power supplyAC100 V to AC240 V, 50 Hz/60 Hz
Power consumptionApprox. 80 VA