Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

Оптическая система измерения толщины NanoGauge C10178-03E

Система измерения толщины Optical NanoGauge C10178 представляет собой систему бесконтактного измерения толщины пленки с использованием спектральной интерферометрии. Толщина пленки измеряется быстро с высокой чувствительностью и точностью с помощью спектральной интерферометрии. В наших продуктах в качестве детекторов используется многоканальный спектрометр PMA, который позволяет измерять квантовые выходы, отражение, пропускание/поглощение и другие параметры, одновременно измеряя толщину различных оптических фильтров и пленок покрытия и многое другое.

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Технические характеристики

Type numberC10178-03E
Measurement models (features)supports NIR
Measurable film thickness range (glass)150 nm to 50 μm*1
Measurement reproducibility (glass)0.05 nm*2 *3
Measurement accuracy (glass)±0.4 %*3 *4
Light sourceHalogen light source
Measurement wavelength900 nm to 1650 nm
Spot sizeApprox. φ1 mm*3
Working distance10 mm*3
Number of measurable layersMax. 10 layers
AnalysisFFT analysis, Fitting analysis, Optical constant analysis
Measurement time19 ms/point*5
Fiber connector shapeφ12 sleeve shape
External control functionRS-232C, PIPE, Ethernet
Power supplyAC200 V to AC240 V , 50 Hz/60 Hz
Power consumptionApprox. 230 VA