Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

Оптическая система измерения толщины MicroGauge C11011-22W

Система измерения толщины Optical MicroGauge серии C11011 представляет собой систему измерения толщины пленки, использующую лазерную интерферометрию. Позволяет проводить высокоскоростные измерения на частоте 60 Гц, поэтому его также можно использовать для измерения на заводе. В сочетании с опциональной картографической системой можно измерить распределение толщины прототипа. Его можно использовать в самых разных приложениях, от мониторинга производственных процессов до контроля качества. C11011-22W измеряет стекло размером от 25 мкм до 2900 мкм и от 10 мкм до 1200 мкм. (Количество измеряемых слоев: макс. 10 слоев)

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Технические характеристики

Type numberC11011-22W
Measurable film thickness range (glass)25 μm to 2900 μm*1
Measurable film thickness range (silicon)10 μm to 1200 μm*2
Measurement reproducibility (silicon)100 nm*3
Measurement accuracy (silicon)&lt, 500 μm: ±0.5 μm, &gt, 500 μm: ±0.1 %*3
Light sourceInfrared LD (1300 nm)
Spot sizeApprox. φ60 μm*4
Working distance155 mm*4
Number of measurable layersMax. 10 layers
AnalysisPeak detection
Measurement time22.2 ms/point*5
External control functionRS-232C, Ethernet
InterfaceUSB 2.0 (Main unit — Computer)
Power supplyAC100 V to AC240 V, 50 Hz/60 Hz
Power consumptionApprox. 50 VA