Система измерения толщины Optical NanoGauge C10178 представляет собой бесконтактную систему измерения толщины пленки, использующую спектральную интерферометрию. Толщина пленки измеряется быстро, с высокой чувствительностью и точностью посредством спектральной интерферометрии. В нашей продукции в качестве детекторов используется многоканальный спектрометр ПМА, который позволяет измерять квантовые выходы, отражение, пропускание/поглощение и ряд других точек, одновременно измеряя толщину различных оптических фильтров, пленок покрытия и многое другое. Особенности • Высокая скорость и высокая точность (диапазон толщины измерительной пленки (стекло): 150 нм～50 мкм) • Измерение в реальном времени • Точное измерение флуктуирующей пленки • Анализ оптических констант (n, k) • Доступно внешнее управление • Квантовый выход, коэффициент отражения , пропускание и поглощение можно измерить с помощью специальных аксессуаров. Технические характеристики Номер типа: C10178-03E Модели измерения (функции): поддерживают ближний ИК-диапазон. Диапазон измеряемой толщины пленки (стекло): от 150 нм до 50 мкм*1. Воспроизводимость измерений (стекло): 0,05 нм*2. *3 Точность измерения (стекло): ±0,4 %*3 *4 Источник света: Галогенный источник света Длина волны измерения: от 900 до 1650 нм Размер пятна: Прибл. φ1 мм*3 Рабочее расстояние: 10 мм*3 Количество измеряемых слоев: Макс. 10 слоев Анализ: анализ БПФ, анализ фитинга, анализ оптической постоянной Время измерения: 19 мс/точка*5 Форма оптоволоконного разъема: форма втулки φ12 Функция внешнего управления: RS-232C, PIPE, Ethernet Источник питания: от 200 до 240 В переменного тока, 50 В Гц/60 Гц Потребляемая мощность: прибл. 230 ВА
Технические характеристики
ХарактеристикиИзмеренная физическая величинатолщинаТехнология оптический, манометрИзмеряемый материалдля пленкиДругие характеристикибесконтактный
