Оптика микроскопа для проверки электронных плат. Недавно разработанные линзы микроскопа специально разработаны для термического контроля электронных плат и анализа мелких компонентов микросхем размером до 28 мкм. Расстояние между объектом измерения и камерой может варьироваться от 80 до 100 мм (от 3,15 до 3,94 дюйма).
Технические характеристики
ХарактеристикиТип макросТехнические приложенияизмерения , инспекционный, для микроскопии, для микровизуализации, для мониторинга процессов, компактный, для исследований, для термического анализаДругие характеристикивысокое разрешение, ИК
