Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

Инвертированный микроскоп Nikon TE2000-S

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!
Артикул: 27426 TME арт.: 27426

Описание

  • Компания Nikon заново изобрела эту функцию и по-новому определила эффективность исследовательской инвертированной микроскопии, представив инвертированный исследовательский микроскоп Eclipse TE2000. Новый инвертированный микроскоп — первый, который в полной мере использует преимущества бесконечного пространства. Доступные в трех моделях, микроскопы TE2000 имеют многопортовую конструкцию и эксклюзивную многослойную структуру, которая позволяет гибко настраивать их для удовлетворения прогрессивных и разнообразных применений сегодняшнего и завтрашнего дня.
  • Благодаря своей уникальной конструкции модели TE2000 могут использовать несколько оптических аксессуаров отдельно или одновременно, поддерживая несколько входных источников освещения, а также функции выходного детектора. Затем можно легко использовать несколько методов эпифлуоресценции одновременно или последовательно, позволяя использовать другие методы, такие как 3D-изображения деконволюции с высоким разрешением, которые могут быть включены вместе с приложениями FRAP или FRET.
  • TE2000S — это базовая модель, которая может использоваться для конкретных задач и в стандартной комплектации оснащена двумя выходными портами.
  • Все микроскопы TE2000 имеют возможность использования как моторизованных, так и ручных аксессуаров. Благодаря выделенному контроллеру узла связи исследователи могут выбирать модернизируемые моторизованные варианты для достижения любого желаемого метода исследования. Это также обеспечивает внешнее управление микроскопом с удаленного пульта или подключенного ПК, что упрощает интеграцию анализа изображений с помощью имеющегося в продаже программного обеспечения для обработки изображений.

Технические характеристики