TDL DF-745 измеряет влажность для проверки газа UHP. Используя ведущую в отрасли технологию настраиваемого диодного лазера (TDL), DF-745 обеспечивает следовые и сверхследовые измерения влажности для электронных проверок газа сверхвысокой чистоты (UHP) с помощью светодиодов. /Процессы производства ЖК-дисплеев. Измерение следов/ультра-следов влажности газов сверхвысокого давления DF-745 обеспечивает измерение следов и ультра-следов влажности в процессах производства светодиодов/ЖК-дисплеев. Способный контролировать несколько фоновых газов, он обеспечивает исключительную производительность и эксплуатационную гибкость в компактном корпусе. Благодаря продуманной и надежной конструкции аппаратного и программного обеспечения этот анализатор можно легко перемещать из порта в порт, практически исключая время простоя, часто связанное с этими приложениями. Обладая нижним пределом обнаружения (LDL) 1 часть на миллиард (ppb), DF-745 обеспечивает сверхнадежные измерения базовой линии и высокую скорость отклика. Прочная ячейка Херриотта предотвращает потерю отражательной способности зеркала, а контакт влаги с оптическими компонентами сводится к минимуму, что обеспечивает точность измерений. Дрейф нуля увеличивает интервалы между калибровками, а минимальное текущее обслуживание обеспечивает низкую стоимость владения в течение всего срока службы. TDL DF-745 измеряет влажность для проверки газа UHP. Используя ведущую в отрасли технологию настраиваемого диодного лазера (TDL), DF-745 обеспечивает следовые и сверхследовые измерения влажности для электронных проверок газа сверхвысокой чистоты (UHP) с помощью светодиодов. /Процессы производства ЖК-дисплеев.
Технические характеристики
ХарактеристикиИзмеряемый объектгазОбласть применения мониторингИзмеряемое значениевлажность, следКонфигурациядля интеграции, компактнаяТехнологияTDL
