DF-750 ULTRA — лучший выбор для анализа влажности в полупроводниковой промышленности. DF-750 ULTRA — это анализатор следов/ультра следов, оптимизированный для обеспечения лучших в отрасли измерений влажности в газах сверхвысокой чистоты (СВЧ), используемых в Фабрика полупроводников 300 мм. Измерение влажности для контроля качества на предприятиях по производству полупроводников. Разработанный специально для измерения следов и ультра-следов влажности в различных газах сверхвысокого давления, прибор DF-750 ULTRA оптимизирован для 300-мм полупроводниковых предприятий. Он измеряет влажность как загрязняющее вещество в газах, предназначенных для электроники, азоте, водороде, гелии, аргоне и кислороде. Сенсорная технология настраиваемого диодного лазера (TDL) обеспечивает лучший в отрасли нижний предел обнаружения (LDL) — 55 частей на триллион (ppt), гарантируя, что стабильные и высокоточные измерения DF-750 ULTRA отвечают потребностям точного мониторинга в производстве полупроводников. Надежный DF-750 ULTRA имеет низкие требования к техническому обслуживанию в течение всего срока службы и обеспечивает стабильность нулевого дрейфа, что значительно увеличивает интервалы калибровки. Низкая стоимость владения в сочетании с исключительными характеристиками измерений означает, что DF-750 ULTRA является лучшим аналитическим решением для проверки качества газа сверхвысокого давления. Высокая стабильность измерения следов/ультра-следов TDL. Квалификация ультра-следов электронных газов UHP необходима для производства полупроводников. Вам нужен анализатор влажности, который сможет обеспечить высокую стабильность измерений, а также чувствительность и стабильную производительность. Точный и низкий уровень ЛПНП является обязательным, равно как и необходимость легкого хранения и вызова данных/записей калибровки. Независимо от ваших требований, вам понадобится анализатор влажности, способный обеспечить эффективность работы.
Технические характеристики
ХарактеристикиИзмеряемый объектгаз, азот, водородОбласть применениядля контроля качестваИзмеренное значениевлага, следТехнологияTDL
