Эта конфигурация рекомендуется для предфункционального, функционального и комбинированного тестирования. Универсальность и масштабируемость испытательной системы Compact MULTI идеально подходит для интеграции внешних приборов, возможностей и методов в единую программу испытаний. Он особенно подходит для создания стендов для функциональных испытаний оборудования и электронных плат. Уменьшенная занимаемая площадь и соответствие критериям WCM позволяют использовать несколько шкафов, что дает возможность реализовать очень сложные испытательные стенды для различных секторов электроники. Compact Multi особенно подходит для: функционального тестирования платы. Тестирования оборудования EOL. Встроенного программирования. Комбинационного теста ict/fun. Автоматического итогового теста. Платы цифровых шин и гибридных каналов (P32) До 12 источников питания постоянного тока (APx, ALx) Собственные инструменты, встроенные в модуль ACL Интеграция готовых инструментов Универсальный встроенный программатор (до 8 параллельно) Управление протоколами связи (последовательный порт) , USB, CAN, LIN, K-line, GPIB, …) Последовательность функционального тестирования с помощью NI (Labview/Teststand) Операционная система ict и/или последовательность функционального тестирования с VIVA Операционная система от SEICA Самотестирование на уровне модуля Приемник с или без верхних контрастов Интерфейс разъема ODU Управление считыванием штрих-кодов и 2D-кодов Автоматический сбор статистических данных
Технические характеристики
ХарактеристикиТип тестарабочийПротестированный продукт для печатных платКонфигурациякомпактныйДругие характеристикианалоговый, цифровой
