Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

Анализатор BSX125 Tektronix

BSX125 — это анализатор от Tektronix.

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!
Артикул: BSX125 Tektronix Analyzer TME арт.: BSX125 Tektronix Analyzer

Возможности:

  • Генерация шаблонов и анализ ошибок до 32 Гбит/с
  • Предоставляет единое решение для стресс-тестирования, отладки и соответствия требованиям Receiver
  • Тестирование стандартов Gen3 и Gen4, включая PCIe, SAS и USB3.1, а также проприетарных стандартов
  • Возможность квитирования DUT со скоростью выше 16 Гбит/с, поддержка требований тестирования RX для инициализации обратной связи и адаптивного обучения канала для ключевых стандартов, таких как PCIe
  • Генерация шаблонов с учетом протокола и обнаружение ошибок поддерживают гибкое программирование отклика на стимул и отладку проблем подтверждения связи.
  • Опция эмуляции прямого исправления ошибок (FEC) поддерживает измерение BER как до, так и после ошибки исправление для часто используемых кодов Рида-Соломона FEC.
  • Программное обеспечение для калибровки и автоматизации испытаний доступно для основных стандартов

Основные технические характеристики

  • Генерация шаблонов и анализ ошибок до 32 Гбит/с.
  • Дополнительная встроенная коррекция Tx с 4 отводами с поддержкой интерактивного обучения канала.
  • Мультичейн, ориентированный на протокол и биты секвенирование паттернов с расширенным редактором паттернов/последовательностей
  • Определяемое пользователем сопоставление паттернов детектора с обратной связью стимул-реакция
  • Запатентованная технология Error Location Analysis™ выходит за рамки измерения BER и обеспечивает понимание источников ошибок путем анализа корреляций и детерминированных шаблонов ошибок
  • Дополнительный анализ прямой коррекции ошибок обеспечивает моделирование частоты ошибок после FEC на основе измеренных шаблонов местоположения ошибок
  • Интегрированный анализ глазковых диаграмм с корреляцией BER, включая Тестирование по маске, пик джиттера, контур BER
  • Дополнительная карта джиттера Всесторонняя декомпозиция джиттера — с длинной последовательностью (например, PRBS-31) джиттера

Приложения

  • Проверка конструкции, включая анализ целостности сигнала, джиттера и синхронизации
  • Определение характеристик высокоскоростных сложных конструкций
  • Проектирование/проверка высокоскоростных компонентов ввода/вывода и систем, включая квитирование ИУ
  • Анализ целостности сигнала — тестирование по маске, пик джиттера, контур BER, карта джиттера и эмуляция прямой коррекции ошибок

Технические характеристики

ManufacturerTektronix
ConditionUsed